Firmenlogo der Helmut Fischer GmbH + Co.KG
ホームページ ニュース 製品 イベント 連絡先 ダウンロード 検索
 Japan - Fischer worldwide  Japanese  English
株式会社フィッシャー・インストルメンツ
フィッシャー測定技術
測定技術でのフィールド経過を図示します

FISCHER 製品の高品質は何年もの産業経験、大規模な、そして著名なパートナーとの共同研究の結果です。フィッシャーは適切なアドバイス、きめ細かななサービスと実用的な訓練セミナーを提供する頼りになる、そして有能な貴社のパートナーでもあります。今日、 FISCHER 製品は産業、研究でそオてエンジニアリングのすべてのフィールドで大きな成功を収めています。

アプリケーションの重要分野

  • 膜厚計(蛍光X線膜厚計,電磁,渦電流式膜厚計)
  • 材料試験(超微少硬さ計、硬度計)


  • 材料分析(フェライト含有率,貴金属分析)


  • アルミニウム上での陽極被膜品質試験と封孔度試験


 最新ニュース  サイトマップ  測定条件
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

     株式会社 フィッシャー・インストルメンツ      Fischer Instruments K.K          

株式会社 フィッシャー・インストルメンツ Fischer Instruments K.K 本社 〒340-0012 埼玉県草加市神明1-9-16 TEL.048(929)3455 FAX.048(929)3451
膜厚測定と材料試験のトップメーカー  世界的なネットワーク9カ国にて直営販売 大阪営業所 〒569-1123 大阪府高槻市芥川町3丁目18番1号 TEL.0726(82)7123 FAX.0726(82)7108
    名古屋営業所 〒465-0042 愛知県名古屋市名東区照が丘54番地 TEL.052(777)2116 FAX.052(777)2114
      fischer@fischer-japan.co.jp
       
膜厚計単層
多層システム
非破壊検査
破壊検査
素材分析高密度素材
液体
ペースト
パウダー
素材測定と硬度測定フェライト含有量
電導性
マルテンス硬さ
ピンホールテスト
アルマイトの封孔度試験
ハンディータイプ - 渦電流方式単層
非破壊検査
非磁性体上の
ペイント、酸化膜、エナメル、プラスチック
アルミ上のアルマイト

一連の各種X-RAY装置を用意しています。各タイプの詳しい仕様は下の表の通りです。
装置はすべてASTM B568、DIN 60 987とISO 3497に従って測定します。

FISCHERSCOPE® X-RAY
フィッシャースコープ
蛍光X線式による膜厚測定と材料分析
卓上型測定器膜厚測定
単層
鉄上(Duplex)のペイント/亜鉛コーティング
非破壊検査
材料分析
ハンディータイプ - 電磁方式単層
非破壊検査
磁性体上の非磁性体膜
鉄上のペイント、エナメル、プラスチック
ハンディータイプ - 渦電流&電磁方式両用単層
非破壊検査
渦電流・磁気方式両用
磁性体&非磁性体
ハンディータイプ - その他PCボード上のピンホール内の銅膜
PCボード上の銅膜
鉄上のニッケル、銅、亜鉛
道路上のアスファルト
COULOSCOPE® CMS  と CMS STEP
クーロスコープ- 電解式
単層
複層
破壊検査

HELMUT FISCHERは17年以上にわたって膜厚測定と材料分析のための蛍光X線システムを製造してきました。蛍光X線式測定法の物理学的原理に関するすべての関連プロセスの正確な処理と、最新のハードウエア・ソフ トウエア技術の使用を通じて、FISCHERのX線装置はほかでは見られない特徴を提供します。

ユニークなソフトウエアWinFTM®(バージョン3 (V.3)またはバージョン6 (V.6))がこれらの装置の心臓に当たります。それにより、較正標準無しで予定測定精度で複雑な被膜系の測定のほか、24種類までの元素(WinFRT®バージョン6使用時)材料分析を行うことができます。

代表的な用例は次の通りです。:

  • Zn、Ni、Cr、Cu、Ag、Au、Snなどの単層被膜。
  • Feを下地とするSnPb、ZnNiおよびNiPのような二元合金被膜。
  • Niを下地とするAuCdCuのような三元合金被膜。
  • Cuを下地とするAu/Ni、Cuを下地とするCr/Ni、Niを下地とするAu/Ag、黄銅を下地とするSn/Cuなどのような複層被膜。
  • プラスチックまたは鉄を下地とする、1層がCr/Ni/Cuのような合金層である複層被膜。
  • 24層までの多層被膜(WinFTM®®V.6使用時のみ)。
  • 構成元素が4種類(またはV.6使用時には24種類)までの金属合金。
  • めっき溶液中の金属イオン濃度の分析。
MMS® はプローブやモジュールを組み合わせることで様々なテストを行うことが出来ます。FISCHERSCOPE® MMS® シリーズの測定器は膜厚測定と素材特性を測る用途の広い測定器です。
MMSはユーザーの用途にあわせて組み合わせを変えることで実質上どのような膜でも、測定することが出来ます。
MMS® システムは様々な用途に合わせてプローブを開発しています。そして、そのプローブを測定器と組み合わせることで次のような測定方法を使って非破壊検査を行うことが出来ます。
磁気誘導法、渦電流法、ベータ線後方散乱型、ホール効果、電気抵抗法MMS® シリーズは様々な用途があります
  • ペイントショップ
  • PC-ボード工場
  • 自動車工場
  • 飛行機工場

  FISCHERSCOPE®
フィッシャースコープ
  MMS®
FISCHERSCOPE®
フィッシャースコープ
 MMS® PC
膜厚測定
PCボードの検査
亜鉛上のペイントコーティング
シリンダー上のコーティング、アルミ製品の酸化防止膜
プラスチックフォイルの膜厚
デュープレス鋼とオーステン鋼のフェライト含有率
非磁性体の導電率
報告書作成用の確立計算、ユーザー定義のデータ処理、etc
SPC/SQC法式を使ったコントロールチャートと測定データの定義
データの編集
RS232インターフェース
LAN 、USBネットワーク
拡張メモリ(コンパクトフラッシュ)
自動測定デバイス
プラグインテストモジュール limited
max. 4 モジュール

max. 8 モジュール
LCD グラフィックディスプレイ バックライト
126 x 70 mm
(5 x 2.75
カラー,タッチスクリーン
170 x 125 mm
(6.6 x 5
HELMUT FISCHERはカスタマーの個々のニーズを満たす特徴を備えたハンディタイプの一連の測定器を提供しています。

磁気方式(DIN EN ISO 2178 , ASTM B499.)を使った磁性金属上の非磁性膜厚測定(クロム、銅、亜鉛、など)

  DELTASCOPE® 
デルタスコープ
MP10E
DELTASCOPE® 
デルタスコープ
MP30-R
DELTASCOPE® 
デルタスコープ
MP30E-S
鉄上の非磁性体膜
鉄、鋼上のペイント, エナメル,プラスチック
データメモリー機能
確率統計機能
Printer ポートRS232 インターフェース
無線通信機能
簡単にに取替え可能な用途に合わせたプローブ
測定レンジμm or mil 本体の設定で変更可 本体の設定で変更可 本体の設定で変更可
電源 アルカリ電池 ACアダプター または アルカリ電池 ACアダプター または アルカリ電池
重さ [g] 230 230 230
サイズ 幅 x 奥行き×高さ(mm) (160 x 80 30)
[6.3 x 3.15 x 1.2]
(160 x 80 x 30)
[6.3 x 3.15 x 1.2]
(160 x 80 x 30)
[6.3 x 3.15 x 1.2]
HELMUT FISCHERはカスタマーの個々のニーズを満たす特徴を備えたハンディタイプの一連の測定器を提供しています。

渦電流方(DIN EN ISO 2360, ASTM B244)を使った非磁性体上の絶縁体膜厚用の膜厚測定器です。特殊仕様として銅上の薄いクロムの膜厚を測ることが出来ます。

  ISOSCOPE® 
イソスコープ
MP0R USB
ISOSCOPE®
イソスコープ
MP10E
ISOSCOPE®
イソスコープ
MP30-R
ISOSCOPE®
イソスコープ
MP30E-S
非磁性体上のペイント,酸化膜, エナメル,プラスチック膜
アルミ上の酸化膜
データメモリー機能
確率統計機能
Printer ポート/RS232 Interface
無線通信機能
交換可能なプローブ
定圧測定
測定レンジ µm [mils] (0 ... 1200)
[0 ... 47]
プローブによる。 プローブによる。 プローブによる。
電源 バッテリー バッテリー AC 電源又はバッテリー AC 電源又はバッテリー
重さ [g] 60 230 230 230
サイズ (高さx 幅x奥行 mm)
(85 x 64 x 30)
(160 x 80 x 30) (160 x 80 x 30)
(160 x 80 x 30)
磁気誘導&渦電流方式両用のDUALSCOPE®
デュアルスコープHELMUT FISCHERはカスタマーの個々のニーズを満たす特徴を備えたハンディタイプの一連の測定器を提供しています。
DUALSCOPEシリーズを使えばオペレータは、膜厚測定に磁気誘導法か渦電流法のいずれかを使うことができます。下地が鋼でも非鉄金属でも膜厚を測定できます
  DUALSCOPE®
デュアルスコープ MP0R USB
DUALSCOPE®
デュアルスコープ MP0RH USB
DUALSCOPE® MP0R-FP USB DUALSCOPE®
デュアルスコープ MP20E-S
DUALSCOPE®
デュアルスコープ MP40E-S
非鉄金属を下地とする塗料、陽極酸化発色被膜、エナメルまたはプラスチック被膜
アルミニウムを下地とする陽極酸化被膜
鋼および鉄を下地とする塗料、エナメルまたはプラスチック被膜
鋼および鉄を下地とする非鉄金属被膜
データ保存
統計的評価
プリンタポート / RS232インターフェイスInterface
無線送信
交換式の差込み式スマートプローブ
一体化された定圧プローブ
測定範囲 ㎛ (0 ... 2000)
鉄:(0 ... 7000)
アルミ:(0 ... 2000)
(0 ... 2000)
プローブによる プローブによる
電源 バッテリー バッテリー バッテリー AC電源
バッテリー
AC電源
バッテリー
重さ [g] 60 60 150 230 230
寸法 (H x W x D mm) [H x W x D "] (85 x 64 x 30)
[3.4 x 2.5 x 1.2]
(85 x 64 x 30)
[3.4 x 2.5 x 1.2]
(85 x 64 x 30)
[3.4 x 2.5 x 1.2]
160 x 80 x 30
[4.25 x 2.6 x 1.2]
160 x 80 x 30

 

その他の測定器

  PHASCOPE ®
フェスーコープ
PMP10
PHASCOPE ®
フェースコープPMP10 DUPLEX
SR-SCOPE®
エスアールスコープ RMP30-S
ISOSCOPE®
イソスコープ
MP30 ROAD
PCボード上の銅膜厚測定またはPCボードのスルーホールの銅膜厚測定
PCボード上の銅膜厚測定
鉄、また絶縁体上の非磁性膜(亜鉛、銅、アルミ)
鉄や鋼上のニッケルコーティング
非磁性体上の非磁性体膜
道路のアスファルトの厚さ測定
鉄上の亜鉛上の塗装膜厚の測定
非鉄金属(Zn,Al)上の塗装膜厚の測定
COULOSCOPE® CMS と CMS STEP
クーロスコープ
クーロスコープ CMS (Coulometric Measuring System) は電解式の膜厚測定器です。 大きく読みやすい液晶ディスプレイとメニュー式の操作方式を使っています。
V18測定スタンドは自動的に電解液の補充と抽出を行うので非常に便利です。
金属の多層メッキから非金属上のメッキまで幅広いメッキの厚さをはかることができます。非常に幅広い用途をもった測定器です。

 
  COULOSCOPE® CMS
クーロスコープ
COULOSCOPE® CMS STEP
電解式膜厚計
膜厚測定のためのステップテスト

 

材料分析 − FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY
フィッシャースコープ
蛍光X線法は効率の高い材料分析ツールです。膜厚測定に広く使われているだけでなく、元素の同定にも良く適しています。ほとんどどのような寸法と状態のサンプルでも評価できます。粉末やペーストでも固体や液体の材料と同様に分析できます。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN およびXDALシリーズは、エネルギー分散式の高性能蛍光X線分光計で、分かっていない材料を簡単で迅速且つ正確に分析できます。濃度が非常に低くてもアルミニウムからウランまでの元素検出が可能です。

これらの装置の能力が並外れて高いのは、スペクトルエネルギー分解能を対象とするペルティエ冷却を備えた半導体検出部と、材料分析および多次元分析のためのソフトウエアWinFTMバージョン6を使用していることによるものです。

応用キットGold Assayと組み合わせれば、これらの装置シリーズは、宝石や貴金属中の金含有量を迅速に非破壊式で正確に測定するのに理想的に適しているFISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAYの一部にもなります。

  FISCHERSCOPE®
フィッシャースコープ
X-RAY XAN®
FISCHERSCOPE®
フィッシャースコープ
X-RAY XDAL
RoHS and WEEE FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SD
測定方向 下から上 上から下 上から下
Be窓付きのマイクロフォーカス・タングステンX線管
可調節の高圧: 10 kV; 30 kV; 50 kV30kV; 50 kV
スロット付き測定チャンバ
コリメータ個数: 4
z軸 無し プログラミング可能 プログラミング可能
テストステージのタイプ 固定テーブル プログラミング可能なXYステージ プログラミング可能なXYステージ
テストスポットの倍率 34 - 184 x 20 - 180 x 20 - 180 x
WinFTMのバージョン V.6:ベーシックおよびPDM / オプションとしてWinFTM Super V.6:ベーシックおよびPDM / オプションとしてWinFTM Super V.6:ベーシックおよびPDM / オプションとしてWinFTM Super
OS: Windows® XP プロフェッショナル
プライマリーフィルター 2 2 6
デジタルパルスプロセッサー オプション 標準

 製品群  カタログ

アプリケーション
FERITSCOPE®
フィッシャースコープ
MP30
フェライト含有量
FISCHERSCOPE®
フィッシャースコープ
HM2000
微小硬さ
SIGMASCOPE®
シグマコープ
SMP10
導電率測定
POROSCOPE®
ポロスコープ
HV20
ピンホールテスト
ANOTEST®
アノテスト
アルマイトの封孔度試験
 製品群

 FERITSCOPE® MP30は磁気法式を利用した非破壊検査装置です。これはプラグインスマートプローブつきで現場で、ラボでフェライト含有率と測る測定器です。

  Applications

 

 

The calibration of the FERITSCOPE® MP30 キキャリブレーションは世界的にIIWセカンダリー標準板に由来します。これは、ANSI/AWS A4.2-91とDIN 32 514”バスラー”スタンダードです。

この3つの写真のうちの一つは、キャリブレーション用標準板の一つです。

 
FERITSCOPE® MP30
 

 

フィッシャーの全ての標準板は世界的なTWI/ENGLANDからのllWセカンダリーキャリブレーション板です。
クニカルデータ  詳細
 
微小硬さ試験機
FISCHERSCOPE® HM2000
PICODENTOR® HM500
HM2000には、ISO 14577、DIN 50 359およびDIN 55 676(案)に従ってマルテンス硬さを手動、半自動または自動で測定する3つの種類があります。

PICODENTOR®HM500は薄膜ナノメーターコーティングに最適です。

FISCHERSCOPE® HM2000は、ISO 14577によるマイクロ硬度試験および材料パラメータ測定のためのコンピュータ制御の測定システムです。

従来のビッカース硬さ測定と比べたマルテンス硬さ測定の利点は、圧痕対角線の光学測定のような主観的影響が無いことです。
それにフィッシャースコープ® H100Cは、ベルコビッチ圧子または様々な球形圧子を用いた硬さ測定にも適しています。ビデオ画面での圧痕の直接測定により、ビッカースによる硬さの簡単な測定が可能です。

用例:

・塗料、合成被膜または硬質材料被膜。
・電気めっき被膜(装飾用、機能用)。
・医療技術用途にとくに使われる材料。
・電子部品、ボンドワイヤーなど。

The Picodentor®HM500は特にナノメーターコーティングに対応した装置です。(アプリケーションについて)

 
  FISCHERSCOPE®
フィッシャースコープ
HM500
FISCHERSCOPE®
フィッシャースコープ
HM2000 XYm
FISCHERSCOPE®
フィッシャースコープ
HM2000 XYp
PICODENTOR®
HM500
負荷範囲 0.005-500 mN 0.4- 2000 mN 0.4- 2000 mN 0.4 - 2000 mN
XYステージ 自動 手動 自動
ビデオ
ソフトウェア WIN-HCU® WIN-HCU® WIN-HCU® WIN-HCU®
OS: Windows XP prof.
Windows XP prof.
SIGMASCOPE® SMP10

 

The SIGMASCOPE® SMP10は片手でサイズの接触式の測定器です。簡単にその場で測定することが出来ます。非磁性体の導電性を測ることが出来ます。

ES40は、測定周波数を60kHz,120 kHz, 240 kHz ,480 kHz選択することが出来ます。

自動温度補正機能がES40プローブの中にあります。また、オプションで温度センサーもあります。

航空機産業で厚さ0.2mmのアルミの厚さをSIGMASCOPE® SMP10-HFで測ることが出来ます。測定周波数は、60 kHz, 240 kHz、480 kHz(ES40) 1.25 MHz (ES40-HF) 

Applications

  • アルミや銅等の導電性測定
  • 航空機や自動車産業でアルミの熱処理プロセスでのモニタリング
  • アルマイト処理する前の導電率測定
  • 純度や抵抗の測定し、金属の選別

     

 

SIGMASCOPE® SMP10用の標準板この標準板は世界的に認められた標準版です。
フィッシャーはヨーロッパに標準板を供給していることでよく知られています。

 

 

世界的にBoeing標準板がSIGMASCOPE® SMP10に使われています。
POROSCOPE® HV20

 

POROSCOPE® HV20(D)はISO2746、ISO8289およびDIN28055による電圧法を使用して金属又はコンクリートを下地とする非導電性の保護皮膜における孔やピンホールを検出するために使います。

用途

  • エナメル又はプラスチックをライニングしたコンテナ、オイルタンク、パイプ、ボイラー、カクハン器などにおける孔の検査。

  • 非導電性コーティングによる建物のシール

  • 建設業

 

各用途向けに適当な電極を用意します。希望の電極をテストヘッドにねじ込むだけで済みます。

左の写真は平型電極を使用したエナメルコーティングの孔の検査です。

 

 

回転電極によるパイプ内壁の孔の検査(左写真)

 

 

プラスチックフォいるなどのように帯電傾向のある試験サンプルがあります。このような用途にはゴムローラー電極と組み合わせた・reg;的な高圧監視によるHV20Dが理想的に適合します。

この場合、静電帯電によって影響を受ける絶対値の代わりに、高電圧変化の時間勾配を評価して孔を検出します。
トピックス
 ナノメーターレンジでの硬度測定

PICODENTOR®HM500
原子レベルでの測定

ナノメーターレンジでの硬度測定

PICODENTOR®HM500
工業での微粒子測定

 
クーロスコープ CMS STEP

COULOSCOPE®CMS STEP
電解式測定

 
ハンディータイプ測定器

MP0R Dual スコープ発売開始

X線測定器

X−RAY XDLM®-C4
様々な膜厚測定

フェースコープ

PHASCOPE® PMP10
渦電流方式で使い易く正確です。

X線測定器

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL
様々な材料を下地とする、信頼性のある皮膜分析

シグマスコープ

SIGMASCOPE® SMP10
量産アルミ材強度の経済的な測定

 
X線測定器

フィッシャーは蛍光X線分析器シリーズの中でFISCHERSCOPE®X-RAY XDL®-Bを幅広いお客様に提供しています。

X線測定器

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W
ナノメーターレベルでの薄い被膜でも信頼性のある測定

 
マルチ機能を備えた測定器

FISCHERSCOPE® MMS® PCB
三つの機能が一つの測定器にプリント回路基板用のユニバーサル測定システムならソルダレジスト被膜だけでなく表面や孔内のCuの膜厚も測定できます。