膜厚測定

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蛍光X線式測定器XDL® 210

FISCHERSCOPE<sup>®</sup> X-RAY XDL<sup>®</sup> 210

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210

比例計数管(PC)を搭載した蛍光X線膜厚測定器です。使いやすい卓上型で、様々なXYステージのラインナップを取り揃えております。

特長

  • ハウジングに細い開口部(Cスロット)があり、大きな板状サンプルも測定可能

主な仕様

型式 XDL 210
測定元素範囲 Ti(22)~U(92)
X線検出器 比例計数管(PC)
X線管球 標準(Wターゲット)
プライマリフィルター 1種類固定
コリメーター数/サイズ 1種固定/Φ0.3mm
本体寸法 570 x 760 x 650mm (幅 x 奥行 x 高さ)
消費電力 最大120W
XYステージ 固定

主な用途

  • 電気メッキパーツの測定
  • 電子部品・半導体産業での機能性多層膜測定
  • プリント基板産業のAu、Pd、Ni薄膜測定

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