膜厚測定

製品情報

  1. ホーム
  2. 製品情報
  3. FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD

蛍光X線式測定器XDV®-μ LD

FISCHERSCOPE<sup>®</sup> X-RAY XDV<sup>®</sup>-μ LD

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD

サンプルとの測定距離を約12mmあるため、段差のある実装された基板の測定に適した素材分析および膜厚測定の高性能蛍光X線膜厚測定器です。 新開発のデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載!

カタログダウンロード

特長

  • サンプルとの測定距離が長いロングディスタンスタイプ
  • 段差のある実装された基板の測定に適しています
  • マイクロフォーカスチューブとポリキャピラリレンズ搭載による微小部測定
  • プログラミング可能なXYステージによる自動測定
  • 自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、優れたエネルギー分解能と短時間測定に貢献します。

主な仕様

ポリキャピラリーレンズ(Polycapillary Optics)を採用した蛍光X線式測定装置となります。
また、約12mmのサンプルとの測定距離があるロングディスタンスタイプのため、段差のある実装された基板を非破壊で膜厚測定と素材分析ができます。

デジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献しています。

型式 XDV-μ LD
測定元素範囲 S(16)~U(92)
X線検出器 シリコンドリフト検出器(SDD)
X線管球 マイクロフォーカスチューブ
プライマリフィルター 4種類
X線光学系 ポリキャピラリー
測定スポットサイズ 約Φ80µm
測定距離(サンプルとの距離) 約12mm
本体寸法 660 x 835 x 720mm (幅 x 奥行 x 高さ)
消費電力 最大120W

主な用途

  • プリント回路基板、コネクターなどの複雑形状の小さな部品や構造部分の測定
  • 薄膜の厚さ測定 (例)≦0.1µmのAu
  • 複雑な多層コーティングの組成分析、膜厚測定
  • オプションにより、大型基板やフレキシブルプリント配線基板用の拡張プレートの取り付け可能

その他の製品紹介

一覧へ戻る この製品に関する
お問い合わせはこちら

お気軽にお問い合わせください