測定原理
TECHNOLOGY測定原理
測定の原理や測定機器の技術情報について分かりやすくご紹介しています。
技術情報は、製品発表時における情報が含まれているため、現行機種にない情報が含まれる場合がありますことを予めご了承ください。
膜厚測定の原理
フィッシャー社製の膜厚測定には、電磁式・渦電流式・渦電流位相式・電磁誘導式・ホール効果磁気式・電気抵抗式・ベータ線後方散乱式・電解式・蛍光Ｘ線式など測定対象の材料により、各種膜厚測定の原理を用いて様々な膜厚測定機器を取り揃えています。
蛍光X線膜厚測定の原理
高精度な膜厚測定や正確な材料分析においてエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置（ED-XRF）は最適です。蛍光Ｘ線の膜厚測定器は、迅速に定性および定量分析をすることができるため幅広い分野で利用されている分析装置です。
微小硬さ試験の概要
工業的に使用される材料は、機能性材料化が進んでおり、またそれらを使用する分野も多種多様に拡大してきております。そのための材料の機械的特性の評価試験方法として、DIN EN ISO14577準拠のインデンテーション試験法に基づくマルテンス硬さ値HM（もしくはユニバーサル硬さHU）や弾性特性値を計測する微小硬さ試験機があります。
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