膜厚測定

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フェースコープPMP10 渦電流位相式膜厚計

PHASCOPE<sup>®</sup> PMP10

PHASCOPE® PMP10

渦電流位相式の膜厚計です。測定表面の粗い膜やネジの頭部や小型部品、スルーホール内の銅メッキなどの膜厚測定に適しています。

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特長

  • 表面の粗い膜や小型部品、スルーホール内の銅メッキなどの膜厚測定に適しています
  • 鉄上のニッケル層の膜厚の測定にも適しています
  • レジスト膜の下にあるプリント基板上の銅膜厚を直接測ることができます

主な仕様

測定方法 渦電流位相式
測定レンジ 各種接続プローブによる

銅の膜厚(PCBなどのスルホール内):5 - 80µm
PCBなどの銅膜厚:1 - 270µm
Fe素地上のCu膜:1 - 200µm
Fe素地上のZn膜:2 - 200µm
Fe素地上のNi膜:1 - 50µm(240kHz)、2 - 100µm(60kHz)
Fe素地上のZnまたはCu膜:1 - 150µm
測定値記録 20,000件
本体寸法 230mm x 95mm x 52mm (L x W x H)
LCDディスプレイ 62mm x 43mm (W x H)
重量 約600g (本体とバッテリー)
電源 4.8Vバッテリー、ACアダプター(100~240V)

主な用途

  • プリント回路基板の銅膜厚
  • プリント基板上のスルーホール内の銅の厚み
  • ネジ頭部などの鉄上の亜鉛の厚みなど

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