膜厚測定

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膜厚・導電率測定の自動測定システムMMS® Automation

FISCHERSCOPE<sup>®</sup> MMS<sup>®</sup> Automation

FISCHERSCOPE® MMS® Automation

膜厚測定および導電率測定のインライン測定システム

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特長

  • 測定器本体に最大4つの同じタイプのプローブを接続して同時に測定が可能
  • さまざまな膜厚測定方式のモジュールおよび導電率測定のモジュールを最大4つ搭載可能
  • ロボットアームなどにマウントされたプローブで自動測定
  • 最大30 m長ケーブルまで対応
  • 測定器本体を制御盤のDINレールに取り付け可能

主な仕様

測定方式 電磁式、渦電流式、渦電流位相式、磁気式、電気抵抗式
測定レンジ 使用するモジュールとプローブの組み合わせによる
測定精度 使用するモジュールとプローブの組み合わせによる
データ容量 最大1,000件のアプリケーションに100万件の測定値保存
本体寸法（ベースユニット） 約365 x 223 x 127 mm
重量 1つのモジュール接続時：約4.5 kg

主な用途

  • PERMASCOPEモジュール：磁性および非磁性金属上の絶縁皮膜
    （鉄またはアルミニウム上の塗膜など）
  • PERMASCOPEモジュール：磁性金属上の非磁性皮膜
    （鉄上の亜鉛、銅、クロム皮膜など）
  • PHASCOPE DUPLEXモジュール：鉄およびアルミニウム上の塗膜
  • PHASCOPE DUPLEXモジュール：鉄上の塗膜／亜鉛層の2層同時測定
  • SIGMASCOPE PHASCOPE1モジュール、SR-SCOPEモジュール：PC基板上の銅膜厚の測定
  • NICKELSCOPEモジュール：非鉄金属または絶縁基板上の電解Niメッキ

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