FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215
下から照射型のコンパクト設計の蛍光X線膜厚測定器です。宝飾品や貴金属などの品質管理や買い取り査定などの測定にも最適です。
下から照射型の蛍光X線による膜厚測定と素材分析装置となります。X線検出器に半導体検出器(PIN)やシリコンドリフト検出器(SDD)、電動で交換可能なフィルターとコリメーターなど、様々な組み合わせのラインナップがあります。
型式 | XAN 215 |
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測定元素範囲 | Cl(17)~U(92) |
X線検出器 | 半導体検出器(PIN) |
X線管球 | マイクロフォーカスチューブ |
プライマリフィルター | 1種類固定 |
コリメーター数/サイズ | 1種固定/Φ1mm |
本体寸法 | 403 x 588 x 365mm (幅 x 奥行 x 高さ) |
測定室内寸法 | 310 x 320 x 90mm (幅 x 奥行 x 高さ) |
消費電力 | 最大120W |