FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ PCB
ポリキャピラリーレンズ(Polycapillary Optics)を搭載し、大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された高性能蛍光X線膜厚測定器です。
カタログダウンロードポリキャピラリーレンズを搭載し、大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された高性能蛍光X線式測定装置です。
型式 | XDV-μ PCB |
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測定元素範囲 | Al(13)~U(92) |
X線検出器 | シリコンドリフト検出器(SDD) |
X線管球 | マイクロフォーカスチューブ |
プライマリフィルター | 4種類 |
X線光学系/サイズ | ポリキャピラリーレンズ Φ20µm (オプション Φ10µm) |
本体寸法 | 670 x 885 x 660mm (幅 x 奥行 x 高さ) |
有効サンプル配置エリア | 600 x 600mm (幅 x 奥行) |
消費電力 | 最大120W |