膜厚測定

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蛍光X線式測定器XAN 252

FISCHERSCOPE<sup>®</sup> X-RAY XAN<sup>®</sup> 252

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252

下から照射型のコンパクト設計の蛍光X線膜厚測定器です。宝飾品や貴金属などの品質管理や買い取り査定などの測定にも最適です。

特長

  • 測定方向が下側から照射されるため、サンプルのポジショニングが容易
  • シリコンドリフト検出器搭載により、高分解能・高感度な測定が可能
  • コンパクト設計

主な仕様

下から照射型の蛍光X線による膜厚測定と素材分析装置となります。X線検出器に半導体検出器(PIN)やシリコンドリフト検出器(SDD)、電動で交換可能なフィルターとコリメーターなど、様々な組み合わせのラインナップがあります。

型式 XAN 252
測定元素範囲 Al(13)~U(92)
X線検出器 シリコンドリフト検出器(SDD)
X線管球 マイクロフォーカスチューブ
プライマリフィルター 6種類
コリメーター数/サイズ 4種/Φ0.2mm~Φ2mm
本体寸法 403 x 588 x 444mm (幅 x 奥行 x 高さ)
測定室内寸法 310 x 320 x 174mm (幅 x 奥行 x 高さ)
消費電力 最大120W
その他 手動XYステージ付き

主な用途

  • 宝飾品・貴金属などの品質管理や買い取り査定
  • 合金の素材分析とメッキ厚の同時測定
  • 多層メッキの膜厚測定および素地の組成分析

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