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膜厚測定


蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®

測定方向が下側から照射される蛍光X線膜厚測定器です。電圧とフィルターの組み合わせにより、薄い皮膜から厚い皮膜まで測定が可能です。
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

下から照射型のコンパクト設計の蛍光X線膜厚測定器です。宝飾品や貴金属などの品質管理や買い取り査定などの測定にも最適です。
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500

ハンドヘルド型の蛍光X線式膜厚測定および素材分析装置です。測定対象物を移動したりすることなく現場で素早く非破壊で検査することができます。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®

比例計数管(PC)を搭載した蛍光X線膜厚測定器です。使いやすい卓上型で、様々なXYステージのラインナップを取り揃えております。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237®

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237®

比例計数管(PC)タイプの蛍光X線膜厚測定器です。4種類のコリメーターと3種類のプライマリフィルターを搭載しており汎用性の高い機種となり、電子部品や半導体産業での機能性多層膜測定などにも適しています。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

X線検出器に、半導体検出器(PIN)搭載の「XDAL 237」、シリコン・ドリフト検出器(SDD)搭載の「XDAL 237 SDD」をラインナップ。4種類のコリメーターと3種類のプライマリフィルターを搭載しており汎用性の高い機種です。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

X線検出機にシリコンドリフト検出器を採用した高性能な蛍光X線膜厚測定器です。電動ステージ付きで非常に薄い皮膜の測定や微量分析ができます。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ

ポリキャピラリ―レンズを搭載した蛍光X線膜厚測定器です。微小部にX線を集光させるためX線強度が強く、精度よく測定が可能です。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ PCB

ポリキャピラリーレンズを搭載し、大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された高性能蛍光X線膜厚測定器です。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ WAFER

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ WAFER

ポリキャピラリーレンズを搭載し、ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された高性能蛍光X線式測定装置です。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD

サンプルとの測定距離を約12mmあるため、段差のある実装された基板の測定に適した素材分析および膜厚測定の高性能蛍光X線膜厚測定器です。
FISCHERSCOPE® X-RAY 4000

FISCHERSCOPE® X-RAY 4000

生産プロセスで連続的なインライン測定および分析ができる蛍光X線測定装置です。
FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

大面積の測定エリアを持つ、生産プロセスで連続的なインライン測定および分析ができる蛍光X線測定装置です。
FISCHERSCOPE® XDV®-µ SEMI

FISCHERSCOPE® XDV®-µ SEMI

微小構造のウェハー測定に特別設計された完全自動化の蛍光X線測定システムです。

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